膜厚和膜厚的测量

测试干膜厚度时，测量程序的选择主要取决于涂层系统和基材的材料组合。涂覆后应直接确定膜厚，以减少故障情况下的拒收率。膜厚的测量在DIN EN ISO 2808等标准中有规定。测量膜厚的方法可细分为干膜和湿膜。对于干膜厚度，应区分破坏性和非破坏性测量方法。例如，非破坏性方法包括β反向散射法、x射线荧光分析和涡流法（振幅密集型或相位密集型）。