x射线荧光分析

符合DIN ISO 3497标准的x射线荧光分析能够对聚合物材料或金属基材金属上的金属涂层进行非接触式无损测量。

该程序还可用于精确测量非常小的结构，并具有非常高的重复精度。这厚度使用这种方法也可以可靠地确定多层涂层的厚度。X射线荧光分析是如何工作的？在X射线荧光分析过程中，待测工件中的原子通过初级X射线辐射被激发。这释放了原子内层的电子。这个过程产生了间隙，然后被更远处原子壳层的电子填充。原子的跃迁导致特征荧光辐射。这由一个特殊的检测器记录下来，随后用于确定涂层的准确厚度。